ケルビン測定が可能な特許取得の同軸型４端子型、0.15～0.2ｍｍ対応可能なスーパーファインピッチなど、オリジナルプローブが充実。
接触接点技術（特許）、５層ハウジング構成、自社オリジナルプローブピンにより、安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現。
ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となるIC検査治具です。
デバイス検査用ICソケットは、テストターゲットの機器により、ケルビン測定用から映像用まで各種ご用意。カスタムも充実しています。
デバイス検査用ユニット治具は、ファインピッチデバイス、コネクタ、測定器付きモジュール、信号リレー等様々な検査用途に対応いたします。
