デバイス検査治具の東洋電子技研|ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット

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プローブピン
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プローブピン
〈特許〉同軸型4端子型プローブピン
〈特許〉同軸型4端子型プローブピン
検査イメージ
コンタクト部形状
パンプ部形状
ファインピッチ、低抵抗のデバイスなどにおいて、より精密な抵抗値測定の必要性が高まっています。 弊社はこのようなニーズに応え、4端子測定可能なコンタクトプローブを開発いたしました。 同軸構造を採用し、従来のように2本のプローブピンを必要とせず、2接点(外部、内部導体)が独立した コンタクトを実現します。 BGAのハンダボール、端子面積やピッチが狭いデバイスにも安定したコンタクトが可能で、さまざまな測定、 検査に有効にご使用いただけます。
[応用製品例]
W-CSP測定用ソケット
チップの研究開発や、品質保証データ取りなどに使用できるカスタムソケット
W-CSP測定用ソケット

ペンシル型プローブ
4端子測定を手軽に実施できる、各種計測用のテストリード
ペンシル型プローブ

プローブカード
ウェハチップ量産検査用
プローブピンの混在、ピッチ変換のアセンブリ可能
プローブカード

電極ユニット
ハンドラ・プローバ用ユニット
電極ユニット

コンパクトソケット
量産向け安価、コンパクトソケット
コンパクトソケット

LED光学特性測定ヘッド
SMDタイプ試験用光学及び電気特性試験用ヘッド
LED光学特性測定ヘッド

ユーザー実績データ
詳細カタログPDF

スーパーファインプローブピン
スーパーファインプローブピン
スーパーファインプローブピン
直径0.1mmレベルの極細両端プローブピンを販売開始いたしました。 0.15~0.2mmピッチ対応可能で、LED点灯試験ユニット、パッケージ基板検査用ユニットなど、各種テストユニットに搭載できます。
部品名 材 質
プランジャー SK-4(金めっき)
バーレル ニッケル
スプリング SWPA(金めっき)
耐久回数と抵抗値
詳細はお問い合わせ

〈オリジナル〉両端コンタクトプローブシリーズ
〈オリジナル〉両端コンタクトプローブシリーズ
独自設計・製作による当社のオリジナルのコンタクトプローブは、利用範囲が広く、耐久性に優れたプローブピンです。電気的接触抵抗値を極力小さく抑え、確実に安定したコンタクトが得られます。先端形状は、ニードル(針)、4ッ割(クラウン)、が選択できます。穴形状のターゲットや異形状にも適合するプローブピンもご用意しています。
部品名 材 質 表面処理
プランジャー SK-4H Ni:1~3μ
Au:0.2μ
バーレル PBT
スプリング SWPH
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電話
TEL. 047-346-1201
9:00〜5:00土日祝日定休
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