デバイス検査治具の東洋電子技研｜ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット

ファインピッチ、低抵抗のデバイスなどにおいて、より精密な抵抗値測定の必要性が高まっています。 弊社はこのようなニーズに応え、４端子測定可能なコンタクトプローブを開発いたしました。 同軸構造を採用し、従来のように２本のプローブピンを必要とせず、２接点（外部、内部導体）が独立した コンタクトを実現します。 BGAのハンダボール、端子面積やピッチが狭いデバイスにも安定したコンタクトが可能で、さまざまな測定、 検査に有効にご使用いただけます。

直径0.1ｍｍレベルの極細両端プローブピンを販売開始いたしました。 0.15～0.2ｍｍピッチ対応可能で、LED点灯試験ユニット、パッケージ基板検査用ユニットなど、各種テストユニットに搭載できます。

部品名	材　質
プランジャー	SK-4（金めっき）
バーレル	ニッケル
スプリング	SWPA（金めっき）

独自設計・製作による当社のオリジナルのコンタクトプローブは、利用範囲が広く、耐久性に優れたプローブピンです。電気的接触抵抗値を極力小さく抑え、確実に安定したコンタクトが得られます。先端形状は、ニードル（針）、４ッ割（クラウン）、が選択できます。穴形状のターゲットや異形状にも適合するプローブピンもご用意しています。

部品名	材　質	表面処理
プランジャー	SK-4H	Ni:1～3μ Au:0.2μ
バーレル	PBT
スプリング	SWPH