プリント基板検査用治具

プリント基板検査用治具

高密度基板検査用治具

V-500シリーズ

「接触接点技術（特許）」、「５層ハウジング構成」、「自社オリジナルプローブピン」により、安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。

・プローブ間ピッチは最小0.16mmまで可能と、ファインピッチです。
・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。
・プローブピン先端の、長さ・ストローク設計に高い自由度があります。
・両端可動プローブピンを採用し、基板へのダメージを抑えています。
・接触接点技術及び、５層ハウジング構成により、プローブピンの交換メンテナンスを容易にし、さらに製作時の短納期化も実現しました。

V-600シリーズ（セパレート方式）

V-500シリーズの性能を活かし、さらに「インターポーザ技術（特許）」を応用して、省スペース化を実現しました。V-600シリーズは従来型の検査治具を多岐に渡り、大幅に改善、改良した、基板検査治具です。特に外観構成は、業界初のセパレート方式を採用している為、取り扱い、メンテナンス等が大変容易で、更に治具の保管管理の際に、大幅な省スペース化を実現しています。
治具の保管収納スペース、保管コスト、廃棄コストにお困りのお客様に、自信をもってお勧め致します。お客様の利便性、トータルコストメリット、廃棄物の削減、を追求して開発した画期的な製品です。

ヘッドユニットはサイズ変更して交換が可能

高機能基板検査用治具

V-4000FB

高機能基板（ビルドアップ基板、部品内蔵基板、モジュール基板）の低抵抗測定検査に最適です。

・「自社オリジナル同軸型プローブピン（特許）」、「接触接点技術（特許）」、「ハウジング構成」により、安定した低抵抗測定、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。
・プローブ間ピッチ：最小0.4mmまで可能。
※コンパチプローブピンも混在可能
・従来のような極細プローブピン２本を交換する負担が無く、メンテナンスが容易です。
・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。
・プローブピン先端部はφ0.10と極細のため、小型のパッドでもレジスト干渉をせずにコンタクトできます。
・外部と内部の導体は独立して可動しますので、凹凸部分（ビアの窪みなど）にも確実にコンタクトできます。
また、両端可動により、基板へのダメージも抑えています。
・接触接点技術及び、５層ハウジング構成により、プローブピンの交換メンテナンスを容易にし、さらに製作時の短納期化も実現しました。

デバイス検査治具の東洋電子技研｜ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット