デバイス検査治具の東洋電子技研|ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット

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プリント基板検査用治具
高密度基板検査用治具
V-500シリーズ
V-500シリーズ
V-500シリーズ
「接触接点技術(特許)」、「5層ハウジング構成」、「自社オリジナルプローブピン」 により、安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。
  • ・プローブ間ピッチは最小0.16mmまで可能と、ファインピッチです。
  • ・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。
  • ・プローブピン先端の、長さ・ストローク設計に高い自由度があります。
  • ・両端可動プローブピンを採用し、基板へのダメージを抑えています。
  • ・接触接点技術及び、5層ハウジング構成により、プローブピンの交換メンテナンスを容易にし、さらに製作時の短納期化も実現しました。
詳細カタログPDF

V-600シリーズ
V-600シリーズ(セパレート方式)
V-500シリーズの性能を活かし、さらに「インターポーザ技術(特許)」を応用して、省スペース化を実現しました。V-600シリーズは従来型の検査治具を多岐に渡り、大幅に改善、改良した、基板検査治具です。特に外観構成は、業界初のセパレート方式を採用している為、取り扱い、メンテナンス等が大変容易で、更に治具の保管管理の際に、大幅な省スペース化を実現しています。
治具の保管収納スペース、保管コスト、廃棄コストにお困りのお客様に、自信をもってお勧め致します。お客様の利便性、トータルコストメリット、廃棄物の削減、を追求して開発した画期的な製品です。
ヘッドユニットはサイズ変更して交換が可能
ヘッドユニットはサイズ変更して交換が可能
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高機能基板検査用治具
V-4000FB
V-4000FB
V-4000FB
高機能基板(ビルドアップ基板、部品内蔵基板、モジュール基板)の低抵抗測定検査に最適です。
  • ・「自社オリジナル同軸型プローブピン(特許)」、「接触接点技術(特許)」、「ハウジング構成」により、安定した低抵抗測定、優れたメンテナンス性、耐久性を実現しています。
  • ・プローブ間ピッチ:最小0.4mmまで可能。
    ※コンパチプローブピンも混在可能
  • ・従来のような極細プローブピン2本を交換する負担が無く、メンテナンスが容易です。
  • ・先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度です。
  • ・プローブピン先端部はφ0.10と極細のため、小型のパッドでもレジスト干渉をせずにコンタクトできます。
  • ・外部と内部の導体は独立して可動しますので、凹凸部分(ビアの窪みなど)にも確実にコンタクトできます。
    また、両端可動により、基板へのダメージも抑えています。
  • ・接触接点技術及び、5層ハウジング構成により、プローブピンの交換メンテナンスを容易にし、さらに製作時の短納期化も実現しました。
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