デバイス検査治具の東洋電子技研|ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット

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東洋電子技研株式会社

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1【発明の名称】
コンタクト装置(コンタクトプローブ)とその製造方法

従来のコンタクトプローブに用いられているスプリングの形状・機構の改善によって、コンタクトプローブの寄生抵抗が大きくならないようにしています。それによって、高周波信号の伝送ロス対策に効果を発揮しています。
2【発明の名称】
測定用プローブ

同軸型4端子プローブを構成する部品種を減らし、製造コスト削減と生産性の向上を実現しています。
3【発明の名称】
ピッチ変換アダプター(インターポーザ)

狭ピッチIC(0.5mmピッチBGA、LGA等)を、1.27mmピッチのテスターにセットする際に使用するピッチ変換アダプタを製作するにおいて、多層基板を使用した高額なものより、安価で短納期での製作を実現しています。
4【発明の名称】
コンタクト機器(プローブユニット)に用いる
4探針測定プローブ(同軸型4端子プローブ)

4端子測定における同軸型4端子プローブとテスト回路の接続における、4端子同軸型プローブのインナー端子を同軸ケーブルの芯線断面に、アウター端子を同じくシールド断面にコンタクトする接続構造にすることにより、プローブユニットの低価格化と、プローブピン数変更作業の簡略化を実現しています。
5【発明の名称】
プローブ収納ボードとコンタクト機

同軸型4端子プローブと同軸ケーブル接触面の、加工・組立構造の工夫により同軸を使用することによるノイズ進入防止などの電気性能保持を実現しています。

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