東洋電子技研は、エレクトロデバイスのテスト機器設計・製作及びテスト工程構築のご提案を行っています。蓄積ノウハウと技術開発、高精度加工技術により、社内に高度な総合技術力を構築しています。クライアントからの様々なご要望の中に新たな技術への芽を見つけ、次の技術へと進化させるために切磋琢磨しています。
独自の配線技術、通電技術の特許を取得し、オリジナルプローブとその応用技術により、狭ピッチ、省スペースの４端子測定を可能にしました。デバイスへのダメージの低減、広範囲のテスト環境に適合する利便性、メンテナンスし易い構造など、テスト環境下での様々なご要望を実現する柔軟な発想を持ち続けています。
開発例）
プリント基板用
自動検査システム
プリント基板パターンまたはプリント基板Assyの測定・検査においての手作業を自動化し、作業の省力化と公正化を図ります。
ユニットは、お客様の目的・ご要望に合わせて構築いたします。
特許技術情報
接触接点技術
「マジックコンタクト」
特許取得の独自技術
当社独自の画期的なコンタクト技術「接触接点技術（特許）」 は当社の様々な製品で応用され、高く評価されています。
ハウジング不要
「接触接点技術（特許）マジックコンタクト」は、当社が独自の技術で開発したもので、 半田付けや、圧着、圧接を使用せずに、プローブと電気配線との接続を可能にした画期的な技術です。（単なる接続のための技術ではなく、コネクタ同様、接続と分離が可能でありながら、コネクタのようなハウジングは不要な点で優れています。）
工程短縮とメンテナンス性能が向上
半導体部品、プリント回路基板等は、多機能化、実装密度の向上に伴い、その検査に必要な治具も、ますます多ピン化が進んで参りました。 また同時に、開発期間の短縮も大きな課題となっています。 こうした状況の中で、従来は検査治具の配線に半田付けや圧着が用いられていたため、その作業工数も膨大なものになっていました。
こうした状況を打破すべく、研究開発を重ね、これまでに無い接続方法を考案いたしました。 この技術により、半田付けや、圧着、圧接等従来の工程が不要になるだけでなく、接続と分離も簡単にできるようになり、プローブの交換等のメンテナンスも容易になりました。
技術を応用した様々な製品群を開発
当社ではこの技術を応用した、画期的な各種製品をご提供しています。 特に基板検査治具においては、プローブ保持部と、ベース部分を同時並行して製作する事が可能になり、工期短縮に大きく貢献しています。最終工程で両キットをつなぐ際に、この技術を用いることで、安定した電気的性能が得られます。
外部、内部導体の２接点が独立コンタクトする
「同軸型４端子プローブ」
高性能プローブピン
「同軸型４端子プローブ（特許）」は、当社独自の技術を駆使して開発した、極めて独創性の高い製品です。 半導体の実機テスト評価試験に、またあらゆる電子部品の性能試験等、広範囲でご使用いただけます。 同軸構造になっている為、内部エネルギーの放射やノイズを遮断しますので、高周波領域においても、高精度のインピーダンス測定 及びファンクションテストが可能です。 従来の２端子プローブと比較して、電気的性能については、低抵抗でしかもバラツキが殆どありません。 また、使用回数（ストローク回数）が増えた場合でも常に安定した値を維持します。 こうした性能を維持しながらも、狭ピッチ（0.4mmまで可）対応可能で、当社の様々な製品に応用展開しています。
