デバイス検査治具の東洋電子技研｜ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット
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デバイス検査用 ICソケット
ケルビン測定ソケット
同軸型４端子プローブを使用し、ケルビン測定を可能にしたソケットです。
ターゲットデバイス：
ウェハレベルCSP 携帯バッテリーの電源ICなど
カスタム ソケット
BGA、LGA、QFNなどのあらゆるICチップに対応いたします。弊社のオリジナルプローブピンを搭載したソケットは、安定したコンタクトを実現します。
クラムシェル・シリーズ
・回転式プッシャー機構
・マルチボード使用（フローティングボード交換）
・多数個取り（複数ICチップ利用機構）
・プッシャーバー（小型ソケット用プッシャー機構）
ワンタッチ・シリーズ
・回転式（プッシャー機構）
・マルチボード使用（フローティングボード交換）
・多数個取り（複数ICチップ利用機構）
回転式プッシャー機構の廉価バージョンとして、
・スクリュークランブ式ソケット
・ワイヤ利用式ソケット
を準備しております。
POP（パッケージ・オン・パッケージ）用ソケット
POPソケットはコンタクト部分が2層構造になっており、MPUとメモリを分離した状態で収納して評価テストを可能とします。
回転式クラムシェルタイプ
回転式プッシャー機構によりICチップ厚の変動を吸収し、確実なコンタクトを実現します。
スクリュー・クランプタイプ
クラムシェルタイプの廉価バージョンです。
回転式ワンタッチタイプ
回転式クラムシェルタイプの発展型で基板への搭載面積を減少させました。
インターポーザ（ピッチ変換アダプター）
インターポーザ（ピッチ変換アダプター）は、ICチップと基板のピッチの違いをアジャストします。お手持ちのテストボードのピッチと、ソケットのピッチをアジャストして接続することを可能にします。最小ピッチ0.3mmから自由に変換することができ、 基板製作の大幅なコストダウンができます。
チップ測定ソケット治具
ICソケットのプローブから手前のリング端子まで配線接続し、入出力用端子として利用し、さまざまな測定が容易にできます。各種デバイスの開発・試験など多目的に有効活用していただけます。
ピッチ変換同様、同一面に引き出した例。
デバイス検査用コンタクト治具
テストソケットとマジックコンタクトの組合せで高価な基板なしでコネクタまでの配線が済みます。
ターゲットデバイス：
映像系デバイスの評価で利用。
TEL. 047-346-1201
9：00〜5：00土日祝日定休
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