デバイス検査治具の東洋電子技研｜ファインピッチコンタクトプローブとICテストソケット

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実装基板上でのIC検査治具　Ι
実装基板上でのIC検査治具　Ι
ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となるIC検査治具です。
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高機能基板検査用治具　Ⅱ
高機能基板検査用治具　Ⅱ
この治具は、基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐することにより、実動作での検査および解析を可能にした事例です。
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